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技術文章

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  • 20248-21
    晶體日記(十六):APEX4 -從“數(shù)據(jù)庫”里尋找答案

    晶體學有時會讓人覺得很神奇,透過一個晶體,我們可以看到微觀的結構細節(jié)。但是晶體在肉眼下就只是晶體,沒有X射線我們就只能看著它,可能對它無從下手。而且晶體結構解析需要有一些已知的信息,不然我們就沒有辦法知道這里面會有什么。讓人失望的晶體做晶體實驗總是會遇到一些意想不到的情況,晶體的生長并不會按照我們的意愿進行。偶爾欣喜若狂地看到的晶體興許只是一些雜質,或者只是鹽罷了。如果你是做蛋白晶體的,你一定會十分沮喪,心情一定是180°的轉彎。記得讀書時發(fā)生過無數(shù)次這樣的情況,然而一般看到...

  • 20248-21
    應用分享 | 異形器件的失效分析測試方案之原位XPS+AES

    失效分析(FailureAnalysis)是探究元器件失效根源的重要手段,旨在為元器件設計、工藝、制造等流程提供改進方向,從而提升產(chǎn)品良率和可靠性。在失效分析中,經(jīng)常遇到異形器件,其不規(guī)則的形狀與多元組件構成的特征尤為明顯,直接影響著產(chǎn)品的性能。值得注意的是,特征尺寸在微米/亞微米級別的異形器件的表征往往存在著諸多挑戰(zhàn)。一方面,受限于傳統(tǒng)分析設備的空間分辨能力,元器件微小特征的微區(qū)分析會遇到難以準確定位和準確分析的障礙,直接影響了測試結果的準確性。對此,PHI創(chuàng)新性推出了掃描...

  • 20248-21
    應用分享 | 固態(tài)電池中電解質/金屬鋰界面的XPS-HAXPES表征

    以立方石榴石型Li7La3Zr2O12(LLZO)作為固態(tài)電解質的固態(tài)電池(SSB),具有高鋰離子電導率、低電子導電率(EC)、高機械和熱穩(wěn)定性以及寬電化學窗口等特點,有望成為推動下一代儲能技術騰飛的“種子選手”。不過研究發(fā)現(xiàn)LLZO表面容易產(chǎn)生由LiOH和Li2CO3組成的鋰離子非均勻(厚度、成分差異)絕緣層,導致LLZO與金屬鋰的潤濕性較差,從而在充放電過程中引起高界面電阻甚至是Li枝晶的形成,嚴重影響LLZO-SSBs的電化學性能。為了增強固態(tài)電解質與金屬鋰的浸潤性,本...

  • 20248-17
    X射線顯微成像系統(tǒng):科技的眼,洞察微觀世界

    在現(xiàn)代科學技術迅猛發(fā)展的今天,X射線顯微成像系統(tǒng)以其獨特的優(yōu)勢,在材料科學、生物學、醫(yī)學等諸多領域發(fā)揮著越來越重要的作用。這種技術通過利用X射線的強大穿透力和高分辨率成像能力,為科學家們提供了一種非破壞性的方式,深入觀察和分析各種材料的微觀結構。X射線顯微成像系統(tǒng)基于X射線與物質相互作用時的吸收和相移特性。當X射線穿過樣本時,不同密度和厚度的區(qū)域會以不同的程度吸收X射線,從而形成一幅反映樣本內(nèi)部結構的圖像。通過高精度的探測器和先進的圖像處理算法,顯微成像系統(tǒng)能夠將這種差別轉化...

  • 20248-14
    應用分享 | GCIB團簇離子尺寸的自主調控和實際測量

    離子濺射源,作為表面分析設備(如XPS、AES和TOF-SIMS)的重要組件之一,不僅能清潔樣品表面,還能輔助深度剖析,揭示樣品的內(nèi)在結構。根據(jù)構成濺射離子的原子/分子個數(shù),可將離子濺射源分為單離子源(如:Ar+、Xe+、O2+)和團簇離子源(如:C60、GCIB(GasClusterIonBeam))。其中,GCIB是由數(shù)百乃至數(shù)千個氣體原子/分子(如Ar-GCIB)組成的離子束,它能夠以極低的單原子能量進行蝕刻,實現(xiàn)樣品表面的平坦化效果。正因如此,GCIB在有機物刻蝕方面...

  • 20248-14
    應用分享 | 燃料電池電極界面的XPS-HAXPES表征

    質子交換膜燃料電池(PEMFC),作為化石燃料具有潛力的可替代者而備受關注。燃料電池由陽極、陰極和電解質組成,其中電催化氧氣還原和氫氣氧化分別在不同的電極上單獨進行,電子和質子分別通過電路和離子交換膜傳輸。為了加速PEMFC的氧還原反應(ORR)動力學,在陰極側構筑了高活性和穩(wěn)定性的催化層。催化層通常由催化材料和具備離子傳導性的離子聚合物組成,其化學態(tài)明顯影響著整個燃料電池的性能。近年來,開發(fā)替代昂貴商用鉑族金屬(PGMs)催化劑(如Pt/C)是當前的研究重點。低成本、高活性...

  • 20248-14
    晶體日記 (十五)- 真實的數(shù)據(jù)質量(2)

    評判數(shù)據(jù)標準的指標也許是歷史傳統(tǒng)的問題,Rint(Rsym,Rmerge)被選中了作為評判數(shù)據(jù)標準的指標。甚至在很多不是很專業(yè)的書里,學生們都被告知Rint需要低于多少,I/σ高于多少才能表示數(shù)據(jù)可用。于是乎,這些數(shù)值變成了評判數(shù)據(jù)質量所謂的金標準??墒钱斕釂朢int是什么意義時,跟什么因素相關時,大多數(shù)同學卻卡在了那里。可能Rint在大多數(shù)同學眼里就是個發(fā)表文章的門檻數(shù)值,具體是什么意義已經(jīng)不再重要。不然就不會有那么多同學追問著怎么把Rint修下去,或者解決掉所謂的“錯誤”...

  • 20248-14
    晶體日記 (十四) - 真實的數(shù)據(jù)質量(1)

    數(shù)據(jù)前幾天涉及到一個數(shù)據(jù),我和一個老師爭論了一陣的Checkcif問題。晶體數(shù)據(jù)很清晰的顯示的原子的位置,在Checkcif里卻認為是有問題的Alert。如果是修,自然是可以修掉的,但是作為一個晶體學工作者的尊嚴,為了修而修,這不是科學,就成了畫畫了。但這個爭論也只持續(xù)了一會,我自知無力改變什么,一個科學發(fā)現(xiàn)就這樣淹沒在checkcif里。如同Alert簡單粗暴的被90%以上的同學和老師稱之為錯誤,即便解釋了再多遍,也鮮有人認真去改正。讀過Checkcif歷史的同學都會知道,...

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